Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Klapetek, Petr. (Autor)
Médium: E-Book
Jazyk: Anglais
Vydáno: San Diego : Elsevier Science, 2018.
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
On-line přístup: Accès à l'E-book