Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
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| Médium: | E-Book |
| Jazyk: | Anglais |
| Vydáno: |
San Diego :
Elsevier Science,
2018.
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| On-line přístup: | Accès à l'E-book |