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|a Leach, Richard.
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|a Fundamental principles of engineering nanometrology
|c Richard Leach.
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|a Données textuelles.
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|a San Diego :
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|a La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 383 p.
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|a L'accès complet à la ressource est réservé aux usagers des établissements qui en ont fait l'acquisition
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