Trap Level Spectroscopy in Amorphous Semiconductors
Enregistré dans:
Auteur principal: | Mikla, Victor V. |
---|---|
Autres auteurs: | Mikla, Victor I. |
Support: | E-Book |
Langue: | Anglais |
Publié: |
San Diego, CA, USA :
Elsevier Science & Technology Books,
2010.
|
Sujets: | |
Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
Accès en ligne: | Accès à l'E-book |
Lien: | Autre support:
Trap level spectroscopy in amorphous semiconductors |
Documents similaires
-
Amorphous Chalcogenides : the past, present and future
par: Mikla, Victor I..
Publié: 2011 -
Oxide Semiconductors
par: Svensson, Bengt G..
Publié: 2013 -
Principles of Semiconductor Network Testing
par: Afshar, Amir. -
High resolution NMR spectroscopy : understanding molecules and their electronic structures
par: Contreras, Rubén H.
Publié: 2013 -
Demystifying Switching Power Supplies
par: Mack, Raymond A..