Journey to Data Quality

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Lee, Yang W.
Autres auteurs: Pipino, Leo L.
Support: E-Book
Langue: Anglais
Publié: Cambridge, MA, USA : MIT Press, 2006.
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Accès en ligne: Accès à l'E-book
Lien: Autre support: Journey to Data Quality
LEADER 01085nam a22002537a 4500
001 ebook-17024508X
008 130625s2006 xxg ||| |||| 00| 0 eng d
020 |a 9780262256544 
041 0 |a eng 
100 1 |a Lee, Yang W. 
245 1 0 |a Journey to Data Quality   |c Yang W. Lee, Leo L. Pipino. 
256 |a Données textuelles 
260 |a Cambridge, MA, USA :  |b MIT Press,  |c 2006. 
500 |a Titre provenant de la page de titre du document numérique 
500 |a Numérisation de l'édition de Cambridge, MA, USA : MIT Press, 2006 
500 |a La pagination de l'édition imprimée correspondante est de 240 p. 
500 |a Type of computer file: Fichier html 
538 |a Configuration requise : navigateur internet 
700 1 |a Pipino, Leo L.  |4 aut 
776 0 |t Journey to Data Quality  |b Texte imprimé  |f Yang W. Lee, Leo L. Pipino  |c Cambridge, MA, USA  |n MIT Press  |d 2006  |p 1 vol. (240 p.)  |z 978-0-262-51335-7 
856 4 |u https://srvext.uco.fr/login?url=https://univ.scholarvox.com/book/88800167  |z Accès à l'E-book  
993 |a E-Book 
994 |a BNUM 
995 |a 17024508X